四探针电阻率方阻测试仪

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KDY-1型四探针电阻率方阻测试仪说明书11.01.10

KDY-1型四探针电阻率/方阻测试仪 使用说明书1、概述KDY-1型四探针电阻率/方阻测试仪（以下简称电阻率测试仪）是用来测量半导体材料（主要是硅单晶、锗单晶、硅

FT-341A四探针法粉末电阻率测试仪

FT-341A四探针法粉末电阻率测试仪 FT-341A双电四探针法粉末电阻率测试仪 一、满足标准： 1）四探针测试仪满足GB/T 1551、GB/T1552-1995，ASTM F8

四探针测试仪测量薄膜的电阻率题库

四探针测试仪测量薄膜的电阻率一、 实验目的1、掌握四探针法测量电阻率和薄层电阻的原理及测量方法；2、了解影响电阻率测量的各种因素及改进措施。二、实验仪器采用SDY-5型双电测四探针测试仪（含：直流数字

四探针测试仪测量薄膜的电阻率(发)

四探针测试仪测量薄膜的电阻率〈一〉 实验目的1、理解四探针方法测量半导体电阻率的原理；2、学会用四探针方法测量半导体电阻率。〈二〉实验原理本实验采用SDY-5型双电测四探针测试仪。该仪器采用了四探针双

四探针测试仪测量薄膜电阻率

膇四探针测试仪测量薄膜的电阻率肂实验目的肁1、掌握四探针法测量电阻率和薄层电阻的原理及测量方法；芈2、了解影响电阻率测量的各种因素及改进措施。芅二、实验仪器螅采用SDY-5型双电测四探针测试仪（含：直

四探针法测量半导体电阻率及薄层电阻

四探针法测量半导体电阻率及薄层电阻【实验目的】1、掌握四探针测量半导体材料电阻率和薄层电阻的测量原理及方法；2、针对不同几何形状的样品，掌握其修正方法；3、测试给定的三块不同规格样品数据，使用EXCE

四探针法测量电阻率和薄层电阻

四探针法测量电阻率和薄层电阻一、引言电阻率是半导体材料的重要参数之一。电阻率的测量方法很多，如三探针法、霍尔效应法、扩展电阻法等。四探针法则是一种广泛采用的标准方法，其主要优点在于设备简单、操作方便、

四探针测试电阻率和方块电阻的实验教案[修改版]

第一篇：四探针测试电阻率和方块电阻的实验教案《四探针测试电阻率和方块电阻》的实验教案 一、实验教学目的 通过该实验，通过让学生测试不同样品的电阻率和方块电阻。增强学生的实际动手能力，加深对电阻率和方块

四探针方法测电阻率

- 四探针方法测电阻率 - 引言四探针方法原理实验设备与材料实验步骤与操作实验结果与分析四探针方法在生产中的应用结论与展望 - 引言

四探针法测电阻率

实验 四探针法测电阻率1．实验目的：学习用四探针法测量半导体材料的体电阻率和扩散薄层的电阻率及方块电阻。2．实验内容硅单晶片电阻率的测量：选不同电阻率及不同厚度的大单晶圆片，改变条件（光照与否），对

四探针法测电阻率实验原理

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