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椭圆偏振侧厚仪试验[指南]

椭圆偏振侧厚仪试验[指南]椭圆偏振测量薄膜厚度和折射率实验在近代科学技术的许多部门中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此,更加精确和迅速地测定一给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要(在实际工作中虽然

椭圆偏振仪学习

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椭圆偏振法简称椭偏法

椭圆偏振法简称椭偏法,是一种先进的测量薄膜纳米级厚度的方法。椭偏法的基本原理由于数学处理上的困难,直到本世纪40年代计算机出现以后才发展起来。椭偏法的测量经过几十年来的不断改进,已从手动进入到全自动、

光的左旋右旋椭圆偏振特性

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用椭圆偏振仪测量薄膜厚度

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椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率

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椭圆偏振法测量薄膜厚度及其折射率

实验名称:  椭圆偏振法测量薄膜厚度及其折射率      一、实验目的1、利用椭偏仪测量硅衬底薄膜的折射率和厚度;提高物理推理与判别处理能力2、用自动椭偏仪再测量,进行比对;分析不同实验仪器两种方式的

ckxAAA椭圆偏振法测量薄膜厚度实验的小结和心得

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光的左旋右旋椭圆偏振特性

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实验18激光椭圆偏振仪的应用——光偏振现象的观察与分析

实验 弦振动的研究【实验目的】观察弦振动形成的驻波。用两种方法测量弦线上横波的传播速度,比较两种方法测得结果的符合情况。验证弦振动的基频与张力、弦长的关系。【仪器用具】电振音叉(约100Hz

椭圆偏振法测量薄膜厚度及折射率

得分教师签名批改日期      深  圳  大  学  实  验  报  告课程名称:        近代物理实验            实验名称:  椭圆偏振法测量薄膜厚度及折射率  学院: