椭圆偏振测厚实验

实验仪器SGC-1型椭圆偏振测厚仪、计算机实验内容仪器的安装、校正。使用仪器测量纳米级薄膜的厚度和折射率数据记录与处理各项待测材料折射率以及薄膜厚度记录待测材料衬底P1A1P2A2薄膜厚度d/nm折射

椭圆偏振测厚实验

实验仪器S__-1型椭圆偏振测厚仪、计算机实验内容仪器的__、校正。使用仪器测量纳米级薄膜的厚度和折射率数据记录与处理各项待测材料折射率以及薄膜厚度记录待测材料衬底P1A1P2A2薄膜厚度d/__折射

椭圆偏振侧厚仪实验

椭圆偏振侧厚仪实验实验五 椭圆偏振测量薄膜厚度和折射率实验 在近代科学技术的许多部门中对各种薄膜的研究和应用日益广泛(因此，更加精确和迅速地测定一给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要(在实际工作中虽

椭圆偏振侧厚仪实验原理

实验原理使一束自然光经起偏器变成线偏振光。再经1/4波片，使它变成椭圆偏振光入射在待测的膜面上。反射时，光的偏振状态将发生变化。通过检测这种变化，便可以推算出待测膜面的某些光学参数。椭偏方程与薄膜折射

椭圆偏振侧厚仪实验原理

实验原理使一束自然光经起偏器变成线偏振光。再经1/4波片，使它变成椭圆偏振光入射在待测的膜面上。反射时，光的偏振状态将发生变化。通过检测这种变化，便可以推算出待测膜面的某些光学参数。椭偏方程与薄膜折射

椭圆偏振,实验报告

椭圆偏振,实验报告椭偏仪实验报告 实验报告 04级6系 王朝勇 PB04210066 实验题目: 椭圆偏振光法测定介质薄膜的厚度和折射率 实验目的:1.了解椭偏仪测量薄膜参数的原理。 2.初步掌握反射

椭圆偏振侧厚仪试验[指南]

椭圆偏振侧厚仪试验[指南]椭圆偏振测量薄膜厚度和折射率实验在近代科学技术的许多部门中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，更加精确和迅速地测定一给定薄膜的光学参数已变得更加迫切和重要(在实际工作中虽然

椭圆偏振仪

椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率原理：He-Ne激光（6328Å）经起偏器产生线偏振光，再经1/4波片转化为等幅椭圆偏振光，以一定入射角φ入射到样品的表面。调节起偏角P，可以使反射光变成线偏振光。此时，

实验名称椭圆偏振法测量薄膜厚度和折射率一

实验名称：椭圆偏振法测量薄膜厚度和折射率(一)引言： 椭圆偏振法广泛地应用于固体基片上介质薄膜的测量。在己有测定薄膜厚度的方法中，它是能测量到最薄和精度最高的一类。测量范围从0. 1 nm到几

椭圆偏振

椭圆偏振测量实验一、实验背景在近代科学技术的许多门类中对各种薄膜的研究和应用日益广泛。因此，能够更加迅速和精确地测量薄膜的光学参数已变得非常迫切。在实际工作中可以利用各种传统的方法，测定薄膜光学参数，

椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率

- - 椭圆偏振仪测量薄膜厚度和折射率 - 实验目的 - （1） 了解椭圆偏振法测量薄膜参数的基本原理；（2）掌握椭

[精品]椭圆偏振法测量薄膜厚度实验的小结和心得

椭圆偏振法测量薄膜厚度实验的小结和心得摘要：椭圆偏振测量是- •种通过分析偏振光在待测薄膜样品表面反射前后偏振 状态的改变来获得薄膜材料的光学性质和厚度的一种光学方法。由于椭圆偏振测 量术测量精度高，